《科技》快閃記憶體峰會，愛德萬測試秀SSD測試方案

年度快閃記憶體高峰會（Flash Memory Summit）7～9日於加州舉行，半導體測試設備廠愛德萬測試（Advantest）除採用MPT3000測試機台，展示對PCIe Gen 4固態硬碟（SSD）的最新解決方案，並將發表2篇技術論文。

愛德萬測試表示，此次展示針對PCIe Gen 4 SSD開發製造而設計的單一系統測試解決方案，優勢在於運用PCIe Gen 3測試解決方案中，已通過驗證的測試架構和軟體，並免除等待第三方Gen 4應用廣泛商用的時間，能幫助客戶加速次世代SSD產品的上市期程。

愛德萬測試亦將在本屆峰會發表2篇技術論文，包括8日針對測試／效能分析議程，以「診斷發生於測試期間的SSD故障問題」為題發表演說，分享如何藉由蒐集、分類和分析來自DUT與測試設備的資訊，找出裝置故障的原因。

至於今（9）日舉行的測試議題議程中，愛德萬測試的技術專家則將針對「雙埠NVMe SSD測試」進行分享，涵蓋具備多訊號路徑、且能同步連結2個主機的裝置，這類裝置性能在企業儲存市場大獲青睞。

時報資訊 記者林資傑／台北報導